16 апреля 2026 года компания «Ксиллект» совместно с Физико-техническим институтом им. А.Ф. Иоффе в Санкт-Петербурге провела научно-практический семинар, посвящённый применению сканирующей зондовой микроскопии. Мероприятие объединило специалистов в области микроэлектроники и приборостроения и было направлено на обмен опытом и обсуждение современных исследовательских подходов.
В рамках семинара представитель Ксиллект выступил с докладом «Широкопольная атомно-силовая микроскопия для контроля поверхности и исследования локальных физических свойств материалов для микроэлектроники». В докладе были рассмотрены возможности применения оборудования компании для анализа характеристик материалов на микро- и наноуровне. Также в мероприятии принял участие представитель компании-партнера «Стратнанотэк» с докладом «Современное оборудование для разработки технологий и изготовления полупроводниковых и тонкоплёночных структур специального назначения», где были представлены актуальные решения для технологических процессов в отрасли.
После докладов состоялось обсуждение, в ходе которого специалисты института продемонстрировали используемое в исследованиях оборудование, а также поделились практическим опытом, методиками и подходами к работе с материалами.
Ксиллект выражает благодарность всем участникам мероприятия. Подобный обмен опытом усиливает прикладную ценность разработок и способствует повышению их эффективности в реальных исследовательских задачах. По итогам встречи участники обменялись контактами для дальнейшего профессионального взаимодействия и развития совместных инициатив в области приборостроения и микроэлектроники.
