Мы рады сообщить, что в 2024 году Ксиллект расширяет свою линейку продукции и представляет новую серию – N-lekta.
N-lekta – это исследовательское оборудование, основанное на принципах атомно-силовой микроскопии для контроля объемного рельефа поверхностей различных материалов. Измерительные системы N-lekta позволяют проводить исследования с разрешением до единиц нанометра и составлять наиболее полную картину о свойствах поверхности образца. Область применения оборудования из серии N-lekta – это полупроводники, полимеры, наноматериалы и многие другие, в зависимости от конкретной модели.
В настоящее время серия N-lekta включает:
- Атомный силовой микроскоп N-lekta AFM Xi-LR 200 с рабочим диапазоном 200х200х35 мм – автоматизированная система измерений полупроводниковых структур.
- Атомный силовой микроскоп N-lekta AFM Xi-SR 40 с модификациями IR (включает ИК спектрометр), TERS (включает рамановский спектрометр) и модификация, включающая ион-проводящий микроскоп.
Уже скоро в соответствующем разделе на нашем сайте можно будет ознакомиться с подробным описанием и техническими характеристиками продукции из линейки N-lekta.
