Новости
На главную22.04.2026Читать полностью16.03.2026Читать полностью06.03.2026Читать полностью05.03.2026Читать полностью20.02.2026Читать полностью08.02.2026Читать полностью29.12.2025Читать полностью17.11.2025Читать полностью29.10.2025Читать полностью
Семинар по атомно-силовой микроскопии
16 апреля 2026 года компания «Ксиллект» совместно с Физико-техническим институтом им. А.Ф. Иоффе в Санкт-Петербурге провела научно-практический семинар, посвящённый применению сканирующей зондовой микроскопии. Мероприятие объединило специалистов в области микроэлектроники и приборостроения и было направлено на обмен опытом и обсуждение современных исследовательских подходов. В рамках семинара представитель Ксиллект выступил с докладом «Широкопольная атомно-силовая микроскопия для контроля…
Ксиллект на симпозиуме «Нанофизика и наноэлектроника»
Компания «Ксиллект» приняла участие в XXX симпозиуме «Нанофизика и наноэлектроника», проходившем с 9 по 13 марта 2026 года в Нижнем Новгороде. Мероприятие ежегодно объединяет исследовательские группы и специалистов, работающих в области физики полупроводниковых наноструктур, рентгеновской оптики и зондовой микроскопии, и служит площадкой для обсуждения актуальных научных результатов и технологических решений. В рамках симпозиума специалисты компании…
Поздравление с Международным женским днем
Международный женский день – это возможность выразить уважение и признательность женщинам за их профессионализм, внутреннюю силу и вклад в общее дело. За умение сочетать ответственность и чуткость, стратегическое мышление и внимание к деталям. Вы формируете атмосферу доверия в командах, вдохновляете на развитие и задаёте высокий стандарт качества в работе. Благодаря вашему участию проекты становятся глубже,…
Ксиллект — партнер XXX Симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника».
Рады сообщить, что компания Ксиллект выступает партнером XXX Симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника». Событие пройдет в очном формате на базе конгресс-центра «Ока» с 9 по 13 марта 2026 г. В ходе мероприятия состоятся презентации докладов. Представитель компании Ксиллект выступит на спонсорской сессии с докладом на тему «Широкопольная атомно-силовая микроскопия в контроле поверхности и исследовании локальных физических…
Поздравляем с Днем защитника Отечества!
Поздравляем с наступающим Днем защитника Отечества и выражаем благодарность всем тем, кто ежедневно берёт на себя ответственность, проявляют силу характера, надёжность и готовы поддержать других. Желаем вам крепкого здоровья, благополучия и энергии для новых побед. Пусть ваш профессионализм, надежность и вклад в общее дело всегда будут оценены по достоинству.С праздником!
Поздравление с Днем российской науки
8 февраля мы отмечаем День отечественной науки - праздник, который объединяет тех, кто ежедневно вносит вклад в развитие технологий, знаний и возможностей нашей страны. Мы гордимся нашими специалистами, которые участвуют в конференциях, создают и внедряют современные измерительные системы, автоматизируют процессы и находят решения для промышленности и исследований. Поздравляем всех, кто связан с научной работой. Желаем…
Поздравление с наступающим Новым годом!
Мы рады поздравить вас с Новым годом! Пусть будущий год станет для вас временем профессионального роста, новых идей и уверенных шагов к осуществлению поставленных целей. Желаем удачи на профессиональном пути, а также находить радость и удовлетворение в повседневных делах. Желаем вам и вашим близким крепкого здоровья, внутреннего равновесия и энергии для осуществления задуманного.
Ксиллект на конференции «Полупроводниковые материалы в современной микро- и наноэлектронике»
В рамках III Всероссийской научно-технической конференции «Полупроводниковые материалы в современной микро- и наноэлектронике», прошедшей 13-14 ноября в Дагестане, был представлен доклад по теме сканирующей зондовой микроскопии. В докладе изложена как история, так и последние достижения российских разработчиков в этой области, в частности разработки Ксиллект: атомно-силовые микроскопы N-Lekta LR200 и SR40 для производства и для научного…
Участие в конференции «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии»
21-24 октября в Минске на базе Института тепло- и массообмена имени А.В. Лыкова НАН Беларуси состоялась XIV Международная научная конференция «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии». В рамках конференции был представлен доклад «Сканирующий зондовый микроскоп для микро- и наноэлектроники N-lekta LR200». Выступление включало историческую справку о развитии атомно-силовой и сканирующей зондовой микроскопии и представление линейки оборудования…