В рамках III Всероссийской научно-технической конференции «Полупроводниковые материалы в современной микро- и наноэлектронике», прошедшей 13-14 ноября в Дагестане, был представлен доклад по теме сканирующей зондовой микроскопии. В докладе изложена как история, так и последние достижения российских разработчиков в этой области, в частности разработки Ксиллект: атомно-силовые микроскопы N-Lekta LR200 и SR40 для производства и для научного применения.
Ксиллект на конференции «Полупроводниковые материалы в современной микро- и наноэлектронике»
17.11.2025
