Атомно-силовые микроскопы
Линейка Н-лекта компании Ксиллект – это серия атомно-силовых микроскопов, сканирующих зондовых микроскопов и комбинированных систем.
Атомно-силовой микроскоп N-Lekta LR200 обеспечивает возможность проведения измерений с образцами до 200×200 мм. Максимальная толщина образца – 40 мм, при этом повторяемость позиционирования составляет не более 1 мкм.
КЛЮЧЕВЫЕ ПРЕИМУЩЕСТВА
- Высокое качество изображения
- 50+ методик в базовой конфигурации
- Автоподбор параметров сканирования
- Автоматическая программа измерений
- Гибкая кастомизация системы
50+ МЕТОДИК ИЗМЕРЕНИЙ
- Морфология
- Численные наномеханические измерения
- Электрические методики
- Магнитно-силовая микроскопия и многие другие
Наименование параметра | Значение |
Диапазон сканирования XYZ | 90x90x9 мкм (±10%) |
Диапазон моторизованного перемещения образца по осям X, Y | 200х200 мм |
Максимальный размер образца (ДхШхВ) | 200х200х30 мм |
Максимальная скорость позиционирования | 5 мм/с |
Точность позиционирования в плоскости XY, не более | 1 мкм |
Автоматическая настройка параметров сканирования | |
Режим панорамного сканирования | |
Встроенный оптический микроскоп | |
Максимальное поле зрения встроенного микроскопа | 1 х 0,8 мм |
Оптическое разрешение | 1 мкм |
Моторизованный фокус | Диапазон 16 мм |
Камера | Цветная, 5 млн. пикселей |
Режим панорамной съемки | |
Встроенная система защиты от шумов и дрейфов | |
Эффективность подавления виброшумов | >90% выше 2 Гц |
Эффективность подавления акустических шумов | 97% в диапазоне 0,3-3 кГц |
Стабилизация температуры | <0,05 °С |
Методики сканирования | |
Измерение морфологии поверхностей: контактный, резонансный и прыжковый. Картирование механических и реологических свойств, таких как жёсткость, модуль упругости, деформация и адгезия, время релаксации. Электрические характеристики поверхности: распределение поверхностного потенциала, карты проводимости и пьезоэлектрические свойства. Измерения магнитной структуры с пространственным разрешением на уровне 30 нм | |
